篩分法是分析D>0.062mm的顆粒的主要方法
發(fā)布時間：2019-10-13瀏覽次數：31
篩分法是分析D>0.062mm的顆粒的主要方法。篩分法是古老、簡單但卻被廣泛應用的一種方法。篩分法通常有幾種篩系，每一篩系由若干個具有不同分辨率的篩組成，每一個篩的分辨率用“目”表示篩孔的大小，“目”就是每英寸長度內有若干根編絲的數目，“目”數越高，篩孔就越小，可以分辨的顆粒粒徑也就越小。
用不同“目”的篩子對顆粒進行篩分實驗時，將剛好能通過顆粒的篩孔直徑或邊長定義為其篩分粒徑。實際進行篩分實驗時，每組顆粒的粒徑介于其上下兩級篩孔孔徑之間，有時也取該兩級孔徑的算術平均值或幾何平均值作為這組顆粒的代表粒徑。后，根據各級篩分顆粒的大小和數量，即可獲得顆粒尺寸的大小及分布。
目前按不同的標準有不同的篩系，如美國TYLES篩系和ASTM篩系，國際標準化組織ISO篩系，日本JIS篩系和英國BS篩系。篩分法的細“目”為30μm～40μm，也就決定了篩分法的小分辨粒度大于30μm。目前，許多單位都購置了各種類型的自動篩分儀，如音波振動式全自動篩分粒度儀等。這些新式篩分儀的基本原理與以前的機械式振篩機是完全一樣的，其核心工作部分仍然是一系列孔徑不同的篩子，只不過增加了一些輔助設備或自動化程序，使得工作效率和精度到提高而已。